Reflexionsspektroskopie Grundlagen, Methodik, Anwendungen

Unter Reflexionsspektroskopie versteht man die Untersuchung der von einer Oberfläche reflektierten Strahlung in bezug auf ihre spektrale Zusammensetzung im Vergleich zu der Zusammensetzung der einfallen­ den Primärstrahlung und auf die Winkelverteilung der Strahlungsleistung. Zwei Grenzfälle sind dabei wichtig: Entweder es handelt sich um reguläre (Spiegel-) Reflexion von einer ideal ebenen Oberfläche, oder es handelt sich um diffuse Reflexion von einer ideal matten Oberfläche. Zwischen beiden Grenzfallen gibt es in Praxis alle möglichen Übergänge. Ent­ sprechend diesen Grenzfallen gibt es zwei prinzipiell verschiedene Metho­ den der Reflexionsspektroskopie: Die eine besteht darin, aus der gemessenen regulären Reflexion die optischen Konstanten n (Brechungsindex) und x (Absorptionsindex) des betreffenden Stoffes mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen in Ab­ A. zu berechnen. Dieses ältere und recht hängigkeit von der Wellenlänge umständliche Verfahren, das außerdem keine sehr genauen Resultate liefert, ist neuerdings von Fahrenfort insofern modifiziert worden, als man für die Reflexion nicht die Phasengrenzfläche Luft/Probe benutzt, sondern die Phasengrenze zwischen einem Dielektrikum höheren Bre­ chungsvermögens (nd und der Probe (n ). Absorbiert die Probe nicht, so 2 beobachtet man oberhalb eines bestimmten Einfallswinkels Total­ reflexion. Trotzdem tritt bei engem (optischen) Kontakt der beiden Phasen doch eine geringe Energie infolge von Beugungserscheinungen an den Rändern des Bündels in die dünnere Phase über, jedoch ist der Energiefluß in beiden Richtungen durch die Phasengrenze hindurch gleich groß, so daß man Totalreflexion findet. Absorbiert dagegen die Probe, so geht ein Teil der überführten Strahlungsenergie verloren, die Totalreflexion wird geschwächt.