Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen
Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
An Introduction to Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and Its Application to Materials Science
Spurenelementanalyse von Umweltchemikalien durch ioneninduzierte Röntgenstrahlung
Molekularstrahluntersuchungen zur Hochtemperatur-Metalloxydation
Surface analysis methods in materials science (Springer series in surface sciences)
Bruchmechanische Bewertung von Oberflächenrissen Grundlagen, Experimente, Anwendungen
Ion Spectroscopies for Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 2)
Ionisation bei Atmosphärendruck Entwicklung, Charakterisierung und Anwendung einer Elektrospray-Ionenquelle für ein doppelfokussierendes Sektorfeld-Massenspektrometer
