Anwendung mathematisch-statistischer Verfahren bei der Fabrikationsüberwachung

Gliederung.- I. Statistische Behandlung von Kaltwalzprozessen.- A. Unterschiede der Banddicke in Längsrichtung des Bandes.- 1. Untersuchungen von Walzverfahren bei automatischer Dickenmessung.- 2. Bestimmung der Längsstreuung.- B. Unterschiede der Banddicke in Querrichtung des Bandes.- 1. Bestimmung des Bandprofils und der Querstreuung.- 2. Versuche über Balligkeit von Walzen.- C. Unterschiede der Banddicke in Längs- und Querrichtung des Bandes und Toleranzbereich.- 1. Kontroll- und Toleranzgrenzen.- 2. Walzplan und Toleranzschema, Behandlung von Projekten.- D. Praktische Anweisungen und Beispiele.- 1. Anweisung für den Entwurf eines Walzplans und Toleranzschemas.- 2. Bestimmung des Bandprofils und der Querstreuung von Spezialband und von breitem Band.- 3. Walzplan und Toleranzschema für dünnes Band.- E. Zusammenfassung.- Anhang: Mathematische Erläuterungen.- II. Kontrolle von Fabrikationsprozessen bei gleichzeitiger Mittelwerts- und Streuungsänderung.- 1. Iterations- und Extremwertkarte.- 2. Vergleich von Streuungsgrößen.- 3. Prüfschärfe bei gleichzeitiger Mittelwerts- und Streuungsänderung.- 4. Stichprobenkarte zur Mittelwerts- und Streuungsanalyse bei gleichzeitiger Mittelwerts- und Streuungsänderung.- 5. Praktische Bedeutung.- III. Güte von Kontroll- und Stichprobenkarten mit technischen Toleranzen.- 1. Modifizierte Kontrollgrenzen.- 2. Beziehungen zwischen Iterations- und Extrem-wertkarte.- 3. Gütebeurteilung von Kontroll- und Stichprobenkarten.- 4. Zusammenfassung.- IV. Formelzeichen und Abkürzungen.- V. Literaturverzeichnis.