Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
Description
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
Keywords
Technology & EngineeringElectronicsSemiconductorsSciencePhysicsCondensed MatterBusiness & EconomicsManagement ScienceSuperconductors & SuperconductivityElectricalChemistryAnalytic
1997Book
Author(s)Frank Schröder-Oeynhausen
PublisherDeutscher Universitätsverlag
ISBN9783824420919
LanguageGerman
